【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進口臺階儀 性價比高
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發(fā)的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM同款位移傳感器，超高精度
壓電陶瓷驅動掃描，無內源振動
自集成主動反饋式防震系統(tǒng)
*正無需額外輔助防震系統(tǒng)，實現高重復性納米測量
納米量級科學研究的必備產品
NanoMap-PS臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。
測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器精度高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產品的。垂直分辨率可達0.1nm。可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等；
 AEP的技術日新月異。欲了解新的產品性能參數，請與我們聯系。

主要參數 :  
垂直分辨率            0.1nm
垂直量程        1000um
探針接觸力            0.03mg-100mg
平臺范圍             直徑150毫米（可選200毫米或更大）
高清圖像               4級放大，彩色CCD
成像光源               雙長壽命強光LED
金剛石探針            0.5um到25um可選